IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009 分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 00:47:53  浏览:8994   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Part5-3:Optoelectronicdevices-Measuringmethods
【原文标准名称】:分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法
【标准号】:IEC60747-5-3Edition1.1-2009
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2009-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47C
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:频带宽度;暗电流;二极管;分立器件;显示装置;电性质和电现象;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;集成电路;发光强度;测量;测量技术;光电子器件;光耦合器;光电二极管;辐射强度;半导体器件;试验
【英文主题词】:Bandwidths;Darkcurrent;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Luminousintensity;Measurement;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Photocouplers;Photodiodes;Radiantintensity;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_080_99;31_260
【页数】:86P;A4
【正文语种】:英语